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      半導體探針在IC測試治具中起到什么作用


        半導體探針在IC測試治具中起到什么作用
       1、半導體探針在IC測試治具中起到增強治具的耐用度
      半導體探針的設計使得其彈簧空間比常規探針的要大,所以能獲得更長的壽命。
       2、不間斷電接觸設計
      行程超過有效行程(2/3行程)或者一般行程時都能夠保持較低的接觸阻抗,消除因探針造成的假性開路造成的誤判。
       3、提高了測試精度
      IC測試針因為更加精細,通常直徑都是0.58mm以下,總長不超過6毫米,所以能夠達到同規格產品更好的精準度。
        IC測試冶具通用性高,只需更換顆粒限位框,即可測試尺寸不同的顆粒;采用超短進口雙頭探針設計,相比同類測試產品,可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短,從而保證測試結果更穩定,頻率更高,DDR3系列最高頻率可達2000MHz。
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