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      專業半導體測試探針制造工廠
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      測試探針的分類


      探針根據電子測試用途可分為:
      A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內大部分的探針產品均可替代進口產品;
      B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;優良產品的核心技術還是掌握在國外公司手中,國內部分探針產品已研發成功,可替代進口探針產品;
      C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術還是掌握在國外公司手中,國內生產廠商積極參與研發,但只有一小部分成功生產。
      探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
      懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
      垂直探針:垂直型(Vertical Type)
      1、ICT探針?。↖CT series Probes)
      一般直徑在2.54mm-1。27mm之間,有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0。19mm,主要用于在線電路測試和功能測試。也稱ICT測試和FCT測試。也是目前應用較多的一種探針。
      2、界面探針(Interface Probes)
      非標準的探針,一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的,例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent)。用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面。
      3、微型探針(MicroSeries Probes)
      兩個測試點中心間距一般為0。25mm至0。76mm。
      4、開關探針(Switch Probes)
      開關探針單獨一支探針有兩路電流。
      5、高頻探針(Coaxial Probes)
      用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的。
      6、旋轉探針(Rotator Probes)
      彈力一般不高,因為其穿透性本來就很強,一般用于OSP處理過的PCBA測試。
      7、高電流探針(High Current Probes)
      探針直徑在2。54mm-4。75mm之間.最大的測試電流可達39amps。
      8、半導體探針 (Semiconductor Probes)
      直徑一般在0。50mm-1。27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic。
      9、電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
      一般用于優化接觸效果,穩定性好和壽命長。
      除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用。
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